介质损耗测试仪采用自动变频在干扰频率50Hz两侧（45Hz和55Hz）各测一个点，然后推算50Hz频率下数据。除多个元件电路的低频谐振外，单个试品中的介质不可能在低频引起能量吸收峰，工频附近介损总是随频率单调变化的，因此这种测量方法不会带来明显误差。
实际上，平均前的两个介损值已十分接近，即使不平均也*有参考价值。目前，变频介损仪已成为介损测量的常规仪器，其优异的抗力和准确度已经得到认可。
介损有RC串联和并联两种理想模型：串联模型tgδ=2πfRC，并联模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分别随频率f成正比和反比。f对*正比和*反比两种模型影响较大。但实际电容器是多种模型交织的混合模型，此时f的影响就小。
介质损耗测试仪变频测量时：
干扰十分严重时，变频测量能得到准确可靠的结果。例如用55Hz测量时，测量系统只允许55Hz信号通过，50Hz干扰信号被有效抑制，原因在于测量系统很容易区别不同频率，由下述简单计算可以说明选频测量的效果：
两个频率相差1倍的正弦波叠加到一起，高频的是干扰，幅度为低频的10倍：
Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)
在x=0/90/180/270°得到4个测量值
Y0=12.4517，Y1=-11.1017，Y2=12.2075，Y3=-13.5576，
计算A=Y1-Y3=2.4559，B=Y0-Y2=0.2442，则：
φ=tg-1(B/A)=5.678°V=A2+B2/2=1.234
这刚好是低频部分的相位和幅度，干扰被抑制。实际波形的测量点多达数万，计算量很大，结果反映了波形的整体特征。
更新时间：2022-02-15 
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