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抗干扰介质损耗测试仪简介
更新时间:2017-02-07      阅读:1454

 抗干扰介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗力强, 测试时间短等优点另外,本仪器针对电容式电压互感器CVT试验困难的特点,增设了外接法测试,外接标准电容器、调压器,使得测试非常简单可靠,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

抗干扰介质损耗测试仪测量线路包括一路标准回路和一路测试回路: 
1、标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品电容容值(CX)和其介质损耗(tgδ)。 
2、数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器外壳地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、、可靠。 

技术参数

 1、环境:-5℃40℃(液晶屏应避免长时间日照) PH<80%;
  2、相对湿度:30%~70% 

  3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±Hz;
  4、外形尺寸:长*宽*高=
435mm*300mm*300mm
  5、重量:
20kg 
  6、输出功率:1KVA 

  7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位);
  8、测试方法:正接法、反接法、外接法;
  9、测量范围:内接试验电压:≤60000PF 
        
外接试验电压:≤10μF 

  10、基本测量误差: 
介质损耗(tgδ):2%±0.09% 
                          电容容量 (Cx):1.5%±2PF

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